背景 : 左心房壓力 (left atrial pressure/LAP) 於心房顫動電燒術中升高與心房顫動之復發率之相關性與心臟衰竭之相關性尚不清楚。本研究之目標為確立心房顫動電燒術後升高之左心房壓力與心臟衰竭之相關性。
方法 : 本試驗為前瞻性、單一醫學中心之世代研究，於心房顫動電燒術中量測左心房及右心房壓力計 100 名患者。主要終點為電燒術後 30 天內發生心臟衰竭， 次要終點為無心房顫動的心衰竭。
成果 : 本研究收入 100 名患者 (63% 男性 , 平均年齡 64.5) 其中 20% 於 30 天內出現心臟衰竭。雙變項分析僧帽瓣疾病、持續性心房顫動、class III 心律不 整藥物、左心房壓及復發心房顫動。多變項分析顯示 class III 心律不整藥物具保護性 (OR 0.24 [0.1-0.5], p=0.04) ，而僧帽瓣疾病 (OR 8.7 [3.3-23], p=0.03) 及環利尿劑 (OR 4.8 [2.6-9.1], p=0.01) 則為有害。9% 患者出現無心房顫動的心衰竭且與高左心房壓、右心房壓及慢性腎臟病有關。
結論 : 心房顫動電燒術後產生心衰竭患者有較高之左心房壓。僧帽瓣疾病、環利尿劑使用及 class III 心律不整藥物與心臟衰竭的發生具相關性。
Reference
1. Gilge JL, Ahmed A, Clark BA, Slaten A, Devathu R, Olson JA, Padanilam BJ, Nair GV, Joshi SA, Ravichandran AK, Patel PJ : Left atrial hypertension and the risk of early incident heart failure after atrial fibrillation ablation. J Cardiovasc Electrophysiol. 2020 Dec 3